Рубрики
Методика рентгеноструктурного анализа
стр.S8
Метод получения точных и воспроизводимых структурных параметров из дифракционных данных
стр.S20
Структурный анализ модулированных кристаллов. Новая структура Ce4Pd13,6Sn5,9

стр.S31
Дифракционное исследование цеолитов стильбита и стеллерита при высоком давлении

стр.S39
Опыт использования кристаллографии в задачах полупроводникового материаловедения

стр.S46
Использование рентгеновской дифракции in situ для изучения минеральных превращений: образование лавсонита при 400 °C и 25 кбар

стр.S50
Рентгендифрактометрические исследования несовершенных кристаллов на примере фторированных графитов

стр.S58
Кристаллографический анализ атомных структур и феноменологический механизм кристаллизации

Рубрики