Журнал
Том 53
№7, 2012

Вековой путь дифракции рентгеновских лучей

Содержание
стр.S5
Рентгеноструктурный анализ – краткая история и итоги первого столетия
Методика рентгеноструктурного анализа
стр.S8
Метод получения точных и воспроизводимых структурных параметров из дифракционных данных

стр.S20
Структурный анализ модулированных кристаллов. Новая структура Ce4Pd13,6Sn5,9

стр.S31
Дифракционное исследование цеолитов стильбита и стеллерита при высоком давлении

стр.S39
Опыт использования кристаллографии в задачах полупроводникового материаловедения

стр.S46
Использование рентгеновской дифракции in situ для изучения минеральных превращений: образование лавсонита при 400 °C и 25 кбар

стр.S50
Рентгендифрактометрические исследования несовершенных кристаллов на примере фторированных графитов

стр.S58
Кристаллографический анализ атомных структур и феноменологический механизм кристаллизации
Обзоры
стр.S66
Рентгенографический метод радиального распределения электронной плотности. Структура нанофазных носителей и нанесенных катализаторов

стр.S90
Высокотемпературная дифрактометрия in situ. Применение к исследованию гетерогенных катализаторов

стр.S113
Рассеяние рентгеновских лучей на одномерно разупорядоченных структурах

стр.S137
Прецизионные рентгенодифракционные исследования поликристаллических материалов на синхротронном излучении

стр.S155
Рентгеноструктурный анализ ультрадисперсных систем: формула Дебая
Самое интересное
Статьи, к которым чаще всего обращаются посетители

Рубрики