- Статья поступила: 21.06.2008 г.
- УДК 577.323:538.9:621.383:544.72
- Просмотров: 114
©
Волков И.Л.
, Базлов Н.В., Бондаренко А.С., Вывенко О.Ф., Касьяненко Н.А.
Санкт-Петербургский государственный университет, Физический факультет, Россия
В работе представлен простой способ нековалентной фиксации ДНК и синтетических полиионов на поверхности монокристаллов Si (100) p- и n-типа. Проведено сравнение различных способов подготовки поверхности для фиксации ДНК. Показано, что конформация макромолекул, зафиксированных на подложке, зависит от наличия двухвалентных противоионов в растворе, а также от зарядовых свойств поверхности и полимера. Проверка и анализ результатов фиксации осуществлены с помощью атомной силовой микроскопии (АСМ).
Ключевые слова: ДНК, полиионы, поверхность кремния, нековалентная фиксация, свет, АСМ