К вопросу о точности определения параметров
элементарной ячейки монокристаллов
на современных лабораторных дифрактометрах
- Статья поступила: 17.11.2020 г.
- С доработки: 03.12.2020 г.
- Принята к публикации: 03.12.2020 г.
- DOI 10.26902/JSC_id72860
- Просмотров: 378
1 Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, Новосибирск, Россия
2 Новосибирский государственный университет, Россия
Предложена методика уточнения параметров элементарной ячейки (ПЭЯ) на монокристальном дифрактометре, оснащенном плоским двухкоординатным детектором. Методика основана на выделении Kα1-составляющих рентгеновского излучения при обработке дифракционных рефлексов. Возможности методики продемонстрированы на монокристаллах [NiEn3]МоO4. В двух независимых экспериментах разница 2θэксп и 2θвыч не превышала 0.02°, а воспроизводимость значений параметров
элементарной ячейки не хуже 0.008 Å.
Ключевые слова: рентгеноструктурный анализ, рентгеновская дифрактометрия поликристаллов, параметры элементарной ячейки, точность
|
Импакт-фактор 2024 1.4 |
||||
|
Срок опубликования 4 мес |
||||
|
XII Национальная кристаллохимическая конференция Апатиты, 4–12 июля 2026 г. |
|
100-лет со дня рождения
Началась публикация |
Уважаемые авторы и подписчики “Журнала структурной химии”,
в свободном доступе
архив ЖСХ до 2022 года ("Номера").
Спецвыпуски
Самое интересное
Статьи, к которым чаще всего обращаются посетители
Рубрики