И.В. Немцев, О.В. Шабанова, И.А. Тамбасов, А.А. Иваненко, А.В. Черепахин, Н.П. Шестаков, В.Я. Зырянов
Методы определения параметров кристаллической
решетки опалоподобных структур
Ключевые слова:
опал, коллоидный кристалл, стереорегулярность, полиметилметакрилат, дисперсионная среда, фотонно-кристаллическая структура, оптическая спектроскопия, брэгговская дифракция, электронная микроскопия