- Статья поступила: 05.11.2020 г.
- С доработки: 19.11.2020 г.
- Принята к публикации: 20.11.2020 г.
- DOI 10.26902/JSC_id71171
- Просмотров: 548
©
Орлов Л.К.
1,2 , Вдовин В.И.
3, Дроздов Ю.Н.
1, Орлов М.Л.
4, Ивина Н.Л.
5,
Штейнман Э.А.6
1 Институт физики микроструктур РАН, Нижний Новгород, Россия
2 Нижегородский государственный технический университет, Нижний Новгород, Россия
3 Институт физики полупроводников СО РАН, Новосибирск, Россия
4 Нижегородский институт управления – филиал РАХН и ГС при Президенте РФ, кафедра информатики и информационных технологий, Нижний Новгород, Россия
5 Компьютерная фирма, ООО МЕРА, Нижний Новгород, Россия
6 Институт физики твердого тела РАН, Черноголовка, Россия
Обсуждаются механизмы образования,
кристаллическая структура, особенности дефектообразования и состав формируемой
при пониженных (менее 900 °С) ростовых температурах на поверхности Si из
углеводорода и гидридов сплошной карбидной пленки. Показано, что при
выращивании в течение длительного времени толстых карбидных слоев под карбидным
слоем образуется система макродефектов и подстилающая поверхность, подобная
пористому кремнию. Присутствие переходного слоя твердого раствора между
карбидным слоем и подложкой из кремния проявляется в положении линий
люминесцентных спектров исследуемых структур в области ближнего ИК диапазона. Для
установления наиболее вероятных механизмов наблюдаемых излучательных переходов
проведен анализ температурного поведения спектральных линий и расчет характера
распределения по слоям структуры возбуждаемых светом неравновесных носителей заряда.
Ключевые слова: кубическая фаза карбида кремния, твердый раствор, гетероэпитаксия, морфологические дефекты, структура гетерограницы, фотолюминесценция, светоизлучающие механизмы