И.В. Немцев,																	О.В. Шабанова,																	И.А. Тамбасов,																	А.А. Иваненко,																	А.В. Черепахин,																	Н.П. Шестаков,																	В.Я. Зырянов									
			 
			
				
					Методы определения параметров кристаллической
решетки опалоподобных структур				
			 
			
			
				
					Ключевые слова:
																						опал,																	 коллоидный кристалл,																	 стереорегулярность,																	 полиметилметакрилат,																	 дисперсионная среда,																	 фотонно-кристаллическая структура,																	 оптическая спектроскопия,																	 брэгговская дифракция,																	 электронная микроскопия